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BTS2048-UV使用這款高質量的緊湊型光譜輻射計在紫外線下測量
?高雜散光減少（BTS2048-UV-S 的減少過濾器版本）；
?超快速接口和電子快門；
?高光學分辨率；
?適用于所有類型的測量任務（UV LED、氘燈、鎢燈到太陽輻射）；
?高雜散光減少有助于將精確校準轉化為精確測量。
1、紫外 CCD 光譜儀與寬帶 CCD 光譜儀
傳統(tǒng)CCD探測器的光譜響應度通常在200 nm至430 nm范圍內。通常，CCD探測器的這種寬光譜響應范圍被稱為光譜輻射計的響應范圍。然而，這沒有考慮色散光柵的光譜響應函數，這進一步降低了檢測器在紫外光譜中的響應度。這導致紫外測量信號出現顯著誤差，主要是通過長波雜散光。寬帶光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證對窄帶紫外LED等產品的精確測量。
專為紫外輻射設計的CCD光譜輻射計具有有限的光譜范圍，并且允許非常高的光柵效率和非常高的光譜分辨率。此外，濾光片還可用于顯著減少雜散光。
2、BTS2048-紫外輻射紫外CCD光譜輻射計
BTS2048-UV 滿足高端紫外二極管陣列光譜輻射計的所有要求，盡管采用尖端技術，但價格極具吸引力。
BiTec 傳感器的一個獨特功能是它結合了背薄型 CCD 光譜儀和硅光電二極管，可提供高線性度水平，從而實現極快的測量速度 （見 關于 BiTec 傳感器的技術文章).帶熱電冷卻的全線性化 2048 像素 CCD 探測器具有 2 μs 至 60 s 的積分時間，可提供非常寬的動態(tài)范圍。這樣可以在很寬的強度范圍內精確測量UV LED。該設計在 190 nm 至 430 nm 的整個光譜測量范圍內提供 0.8 nm 的高光學分辨率。光譜儀還配備了兩個濾光片，用于自動低雜散光測量（sEE也是我們的 關于光譜輻射計雜散光減少的技術文章）.對于存在其他光源的寬帶紫外燈和紫外LED來說，這種測量是必要的。BiTec 檢波器中的極高線性度 SiC 光電二極管用于 CCD 的線性化或用作參考檢波器。SiC光電二極管的輻射響應度功能使其能夠獨立于CCD使用。輻射精度可以使用相應的光譜數據自動校正。因此，該設備可用于對非常微弱的信號進行快速測量，這使得 BTS20418-UV 非常適合集成在 測角儀.盡管尺寸緊湊（103 mm x 107 mm x 52 mm – 長 x 寬 x 高），BTS2048-UV 光譜輻射計具有一個遙控濾光片輪，帶有兩個濾光片和一個用于暗測量的快門。
3、精確的光譜輻射測量（低雜散光）
為了促進CCD傳感器動態(tài)范圍的最佳使用，并克服UV范圍內大多數陣列規(guī)格輻射計的問題，遙控濾光輪（開式，閉式，濾光片）位于光束路徑中。該濾光片與智能測量和雜散光校正程序相結合，可實現 BTS2048-UV 的高質量測量。
BTS2048-UV 針對其他紫外線源的一般測量進行了優(yōu)化。Gigahertz-Optik的雜散光校準技術與其他智能測量程序相結合，可實現卓越的雜散光抑制。 另請參閱我們關于光譜輻射計雜散光減少的技術文章.可根據要求提供BTS2048-UV附加雜散光校正矩陣的校準。
4、絕對輻照度的絕對校準低至 200 nm！
多年的經驗和設備齊全的DAkkS校準實驗室（D-K-15047-01-00）使千兆赫茲光學能夠提供低至200 nm的可追溯校準。這拓寬了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的應用范圍。對于短波光譜范圍，Gigahertz-Optik GmbH 實施了基于氘燈的特殊校準策略。
5、用于前端和后端 LED 測試測量
BTS2048-UV 非常適合測試工業(yè)應用中的紫外線前端和后端 LED。其CCD探測器集成了觸發(fā)測量之前所有像素的電子調零功能（電子快門）。當測試LED在脈沖電流模式下運行時，電子快門和測量觸發(fā)可以通過觸發(fā)端口與電源同步。強大的微處理器只需 7 毫秒即可通過快速 LAN 接口將完整的數據集傳輸到系統(tǒng)計算機。
6、直接安裝而不是使用光導
BTS2048-UV紫外光譜輻射計具有擴散器窗口，因此可用于測量紫外輻照度，包括光譜和峰值波長，無需任何其他附件組件。通過擴散器窗口，BTS2048-UV 還可以直接安裝在積分球、輻射透鏡和測角儀等附件上，以測量輻射功率、輻射度和輻射分布。
7、用戶軟件和開發(fā)人員軟件
標準 S-BTS2048 用戶軟件具有可定制的用戶界面，并提供大量顯示和功能模塊，當使用技嘉赫茲光學有限公司的相應附件組件配置 BTS2048-UV 時，可以激活這些模塊。這 S-SDK-BTS2048 提供開發(fā)人員軟件，用于將BTS2048-UV集成到客戶自己的軟件中。
8、校準
光度測量設備的一個基本質量特征是其精確和可追溯的校準。BTS2048-UV由千兆赫的校準 ISO/IEC 17025 校準實驗室 已獲得DAkkS（D-K-15047-01-00）的認可 光譜響應度 和 光譜輻照度 符合 ISO/IEC 17025 標準。校準還包括相應的附件組件。每個設備都隨附各自的校準證書。
| 事項 | 簡述 | 事項 | 簡述 |
| 簡短的介紹 | 紫外優(yōu)化 TE 冷卻 CCD 光譜儀具有寬動態(tài)范圍，適用于 CW 和輻照度、光譜和峰值波長的短期測量。其他參數的配件。 | 主要特點 | 緊湊型設備。帶有背照式 TE 冷卻 CCD（2048 像素，0.8 nm 光學分辨率，電子快門）和 SiC 光電二極管的 BiTec 探測器。光帶寬校正 (CIE214)。帶快門和邊緣濾鏡的濾鏡輪。帶散光窗的輸入鏡頭。余弦視野。 |
| 測量范圍 | 光譜：3E-5 W/(m2nm) 至 3E4 W/(m2nm) @325nm。響應度從 190 nm 到 430 nm。 積分：2E5 W/m2 到 5E-3 W/m2 的噪音等效水平 | 典型應用 | 用于設計應用的 CCD 光譜儀。用于前端和后端 LED 測試的測試系統(tǒng)集成模塊。 |
| 校準 | 工廠校準。可溯源至國際校準標準 | 典型應用 | 用于光譜輻照度、紅斑等的照度計 |
| 測量數量 | 光譜輻照度 (W/(m2 nm))、輻照度 (W/m2)、峰值波長、中心波長、質心波長、紅斑。選配積分球：附加光譜輻射功率（W/nm）和輻射功率（W） | 輸入光學 | 漫射器，余弦校正視場 (f2 ≤ 3 %) |
| 濾鏡輪 | 4 個位置（打開、關閉、光學過濾器）。用于遠程暗電流測量和雜散光減少。 | BiTec | 可以使用二極管和陣列進行并行測量，從而通過二極管對陣列進行線性校正，并通過 a*(s z ( λ )) 和 F*(s z ( λ ))在線校正二極管的光譜失配。 |
| 校準不確定度：光譜輻照度 | |||
| λ | u(k=2) | λ | u(k=2) |
| (200 - 239) nm | ± 9 % | (240 - 339) nm | ± 6.8 % |
| (340 - 359) nm | ± 5 % | (360 - 399) nm | ± 4.3 % |
| (400 - 430) nm | ± 4 % | ||
| 光譜檢測器 | |||
| 事項 | 描述 | 事項 | 描述 |
| 積分時間 | 2 μs - 60 s *1 | 光譜范圍 | (190 - 430) nm |
| 光帶寬 | 0.8 nm | 像素分辨率 | ~0.13 nm/Pixel |
| 像素數 | 2048 | 芯片 | 高靈敏度背照式 CCD 芯片，一級冷卻 (1TEC) |
| 模數轉換器 | 16 位（25 ns 指令周期時間） | 峰值波長 | ± 0.05 nm |
| 帶通校正 | 支持數學在線帶通校正 | 線性度 | 完全線性化芯片 >99.6% |
| 雜散光 | Out of Bound method < 1E-4 *3 | 基線噪聲 | 5 cts *4 |
| 信噪比 | 5000 *5 | 動態(tài)范圍 | >9 級 |
| 光譜響應度 | (3E-5 - 3E4) W/(m2nm) @325nm *6*7 | ||
| 典型測量時間 | 鹵素燈的 W/m2 (250 - 400) nm | ||
| 1 | 4,4 秒 | ||
| 10 | 440 毫秒 | ||
| 100 | 44 毫秒 | ||
| 積分探測器 | |||
| 篩選 | 對從 220 nm 到 360 nm 的矩形函數的響應度進行數學調整（SMCF 使用測量的光譜數據對輻射函數進行在線校正）。* * 二極管的光譜響應不對應于矩形函數（光學濾波器不可能）。當測量光譜偏離積分檢測器校準光譜的光源時（UV LED，峰值在 405 nm），使用 SMCF 校正測量結果。這種校正的不確定性取決于測量光譜的質量（噪聲）和校正因子（光譜范圍）的大小。 | ||
| 測量時間 | (0.1 - 6000) 毫秒 | 測量范圍 | 七 (7) 個測量范圍，具有超越偏移校正 |
| 校準 | 輻照度 ± 6 % * 10 | 測量范圍 | (5E-3 - 2E5) W/m2 *11 |
| 圖表 | |||
| 光譜響應度 |  | ||
| f2 (directional response/cosine error) |  | ||
| 其它 | |||
| 微處理器 | 32bit器件控制，16bit CCD陣列控制，8bit光電二極管控制 | 接口 | USB V2.0、以太網（LAN UDP協(xié)議）、RS232、RS485 |
| 數據傳輸 | 2048 浮點數組值的標準通過以太網 7 毫秒，通過 USB 2.0 140 毫秒 | 輸入接口 | 2x (0 - 25) VDC, 1x optocoupler isolated 5 V / 5 mA |
| 輸出接口 | 2x open collector, max. 25 V, max. 500 mA | 扳機 | 包含觸發(fā)輸入（不同選項、上升/下降沿、延遲等） |
| 軟件 | 用戶軟件 S-BTS2048 可選的軟件開發(fā)套件 S-SDK-BTS2048，用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中.dll的用戶軟件設置。 | 電源 | 帶電源：直流輸入 5V （±10 %），700 mA 帶 USB 總線 （500mA） *8 |
| 尺寸 | 103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米 （長 x 寬 x 高） | 重量 | 500 克 |
| 安裝 | 三腳架和M6螺紋； 前適配器 UMPA-1.0-HL，用于積分球端口框架 UMPF-1.0-HL | 溫度范圍 | 儲存： （-10 至 50） °C 操作： （10 至 30） °C *9 |
| 信息 | *1 建議每改變一次積分時間就進行一次新的暗信號測量。 *2典型值，主波長的不確定性取決于LED的光譜分布。 *3 典型值，在冷白寬帶LED的峰值左側100nm處測量，有深藍LED的峰值。 *4 *5 典型值，在4ms的測量時間和陣列的滿刻度控制下，在沒有平均化的情況下測量。平均化的結果是信噪比的二次方上升。即基礎噪聲的二次下降，例如，平均到100倍，信噪比提高10倍。 *6 最小500/1信噪比。滿刻度控制時最大。 *7 只允許在短時間內進行輻照，以避免熱損傷。 *8 在USB連接期間，由于電流供應有限，并非所有的功能都可用，例如沒有以太網和TEC冷卻。 *9 設備需要在大約25分鐘內實現溫度穩(wěn)定。如果在預熱階段進行測量，或者在不同的溫度下進行測量，暗信號的測量需要在大約25分鐘內完成。如果在熱身階段進行測量，或者在不同的溫度下進行測量，每次測量都需要進行暗信號測量。 *10 通過氘燈進行(Z)校正。 *11 通過氘燈的光譜功率分布，只允許在短時間內進行最大輻射，以避免熱損傷。 | ||
| 型號 | 簡述 |
| S-SDK-BTS2048 | BTS2048 變體的軟件開發(fā)套件。 |
| GB-GD-360-RB40 | 用于測量 2π 源的測角儀 |
| 型號 | 簡述 |
| BTS2048-UV-S | 使用這款高質量的緊湊型光譜輻射計在紫外線下測量 |
| GB-GD-360-RB40-2-BTS2048-UV | 為紫外線消毒燈提供高光譜雜散光抑制 |
| BTS2048 系列 | 緊湊型光譜輻射計，具有出色的光學性能和 BiTec 技術，可在實驗室和現場使用中進行精確測量。 |
用于BTS2048-UV的S-BTS2048軟件 以太網接口縮短數據傳輸時間
電子快門縮短測量時間
